Lineare Pick & Place-Test & -Bildverarbeitung
Our Linear Pick & Place Test & Vision Handlers integrate direct docking with a streamlined linear mechanism, delivering precision and
efficiency across development, low-volume, and high-volume production.
Mason
Lineares Pick & Place-System
Ein leistungsstarkes Pick & Place-System, entwickelt für Hochvolumen-Multi-Site-Tests von ICs und Bildsensoren, unterstützt Einzel-, Dual-, Quad- und Oktal-Testplätze.
| JEDEC-Tray | |
| QFP, BGA, QFN, MLF, TSSOP, SOIC, SIP, ODFN, OLGA | |
| Elektrischer Funktionstest, CMOS-Bildsensor-Test, Test bei Raum- bis Hochtemperatur | |
| Bis zu 16 Testplätze |
AERO-10
Gerätecharakterisierungssystem
Das ist ein kompaktes und vielseitiges Testsystem für Leistungshalbleiter, MEMS und optoelektronische Bauteile – geeignet von der Entwicklung bis hin zu kleinen Produktionsmengen.
| JEDEC-Tablett, Automatischer Tablettstapler , Waffelpaket, Waffelring , Kunststoff-/Metallröhre , Vibrationswendelförderer | |
| JEDEC Tray , Automated Tray Stacker , Waffle Pack , Wafer Ring Plastic/Metal Tube, Tape & Reel | |
| SOP, SOJ, SON, QFP, QFJ, QFN, LGA, BGA, WLCSP, Bare Die (Kann innerhalb der Größenbeschränkungen für alle Gehäuse konfiguriert werden) | |
| ICs, optische Geräte, Sensoren, Leistungsgeräte (Standard- und kundenspezifische Teststationen verfügbar) | |
Stimulus Options
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| Standard: Einzelstandort. Mehrere Standorte auf Anfrage. | |
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