Wafer-Level-Test
Trooper-T
Wafer-Level-VCSEL-Testhandler
Entwickelt zur Messung und Prüfung der optischen Energieeffizienz und Wellenlänge des VCSEL-Strahls. Dabei werden sowohl Nah- als auch Fernfeldtests durchgeführt, um den Emissionsdurchmesser, die Modusemissionseigenschaften sowie den maximalen Emissionswinkel zu ermitteln.
| Wafer-Kassette | |
| VCSEL, LED, Mikro-LED | |
| LIV-Sweep-Test, Fernfeldtest, Nahfeldtest | |
| Automatisiertes Yield-Monitoring, Automatisierter Retest, Automatisiertes GR&R <10%, Wafer-Mapping, Partielle Wafer-Prüfung |
Queen-QCP
Testhandler für randemittierende Laser
Ein vollautomatisiertes System zur Durchführung des vollständigen LIV-Sweep-Tests sowie zur spektralen und fernfeldnahen Charakterisierung von randemittierenden Lasern (EEL).
| Wafer | |
| Randemittierender Laser | |
| LIV-Sweep-Test, Laser-Fernfeldtest | |
| Maßprüfung | |
| Tray-Map-Dateiintegration, Automatisierte optische Inspektion, Automatisiertes Yield-Monitoring, Automatisiertes GR&R <10% |
Queen-QCD
MLA & DOE-Testhandler
Ein innovativer Testhandler für optische Linsen wie Diffractive Optical Elements (DOE) und Mikrolinsenarrays (MLA). Er bietet Hochgeschwindigkeits-Fernfeldtests, ein hochpräzises AOI-System und eine sanfte Handhabung, um Beschädigungen am Prüfobjekt (DUT) zu vermeiden.
| Wafer-Ring | |
| JEDEC-Tray, Wafer-Ring | |
| Diffraktive optische Elemente [DOE], Mikrolinsenarray [MLA] | |
| Optische Transmissionseffizienz, Fernfeldtest | |
| Visuelle Ausrichtung, Maßprüfung, Kosmetikprüfung | |
| Tray-Map-Dateiintegration, Automatisierte optische Inspektion, Automatisiertes Yield-Monitoring, Automatisiertes GR&R <10% |