Modul-Level-Test
GIDEON
Testhandler für Umgebungslicht-Kalibriersensoren
Kalibriert präzise die Sensorantwort mittels eines breitbandigen Spektral-Sweeps über eine in Nanometern abgestimmte Lichtquelle. Der Sensor wird in verschiedenen Lichtumgebungen und Spektren getestet, um seine Fähigkeit zu prüfen, Unterschiede genau wahrzunehmen und darauf zu reagieren.
JEDEC-Tray | |
Umgebungslichtsensoren | |
Lichtleckagetest, Sensor-Empfindlichkeits- & Linearitätstest, Spektralkalibrierung, Spektrale Messwertvalidierung des Sensors | |
Mehrfach-Testzellen für bis zu 108 parallele Teststandorte | |
300nm~1100nm | |
Anwesenheitsprüfung der Einheiten, Positionsüberprüfung | |
Automatisiertes Monitoring der Golden-Unit, Spektrometer-Auditkontrolle, Automatisiertes GR&R <10%, Automatisierter Retest, Laufzeitprotokoll, Automatisiertes Monitoring bei niedriger Ausbeute, UPH-Tracker, Deaktivierung von Teststandorten |
GIDEON
Testhandler für Näherungssensoren
Ein vollautomatisiertes System zur Durchführung von vollständigen LIV-Tests, Messung der Strahlprofilmerkmale, Prüfung der Fotodiodenempfindlichkeit und -reaktionsfähigkeit sowie Funktionalitäts- und Reflexionsstandardtests für Näherungssensoren.
JEDEC-Tray | |
Näherungssensor | |
LIV-Sweep-Test, Modul-Reflexionstest, PD-Empfindlichkeits- und Reaktionstest | |
Bis zu 32 parallele Standorte | |
Automatisiertes Monitoring der Golden-Unit, Automatisiertes Yield-Monitoring, Automatisierter Retest, Automatisiertes GR&R <10% |
GIDEON
Testhandler für Structured-Light-3D-Sensoren
Er führt Hochgeschwindigkeits-LIV-Sweep-Tests durch und analysiert dabei das Muster des Dot-Projektors und die Flutbeleuchtungsmerkmale. Die Sicherheit für reale Anwendungen wird geprüft, um die Eignung für das menschliche Auge zu gewährleisten.
JEDEC-Tray | |
JEDEC-Tray, Tape & Reel | |
Systemausrichtung, DUT-Position und -Ausrichtung, 2D-Matrix-Inspektion, 6-seitige AOI-Inspektion [optional] | |
LIV-Sweep-Test, Fernfeldtest | |
Bis zu 12 Testplätze | |
Automatisiertes Monitoring der Golden-Unit, Automatisiertes Yield-Monitoring, Automatisierter Retest, Automatisierte Deaktivierung von Standorten/Nestern, Automatisierte Reinigung der Pogo-Pins, Automatisiertes GR&R <10% |
GIDEON
Testhandler für Time-of-Flight-3D-Sensoren
Prüft und analysiert die Empfindlichkeit und Reaktionsfähigkeit der Fotodiode auf reflektiertes Licht mit verschiedenen Arten von Reflexionszielen in unterschiedlichen Höhen und Abständen.
JEDEC-Tray | |
Time-of-Flight-3D-Sensoren | |
LIV-Sweep-Test, Fernfeldtest | |
Bis zu 12 Testplätze | |
2D-Matrix-Inspektion | |
Automatisiertes Monitoring der Golden-Unit, Automatisiertes Yield-Monitoring, Automatisierter Retest, Automatisierte Deaktivierung von Standorten/Nestern, Automatisiertes GR&R <10% |
GIDEON
Testhandler für AR/VR-Miniatur-Bildsensoren
Eine hochparallele Testplattform, die mit einer Reihe von Testcharts in verschiedenen Arbeitsabständen die Leistung von Miniatur-Bildsensoren/Endoskopen gemäß den ISO- und EMVA-1288-Standards prüft.
Angepasste Tray | |
Miniatur-Bildsensor, Endoskop | |
Elektrischer Funktionstest, Edge Spatial Frequency Response (ESFR) ISO-Testchart, Dynamikbereichs-Testchart, Beleuchtung mit hoher Gleichmäßigkeit, Schachbrettmuster | |
Bis zu 12 parallele Standorte | |
Aktive Ausrichtung/Positionierung der Test-Sockets | |
Automatisierte Ausrichtung/Positionierung der Test-Sockets, Programmierbare Farbtemperatur der Lichtquelle für Sensortests |
GIDEON
VCSEL-Testhandler
Ein vollautomatisierter Testhandler zur Prüfung der elektrischen und optischen Eigenschaften von VCSELs auf Modulebene.
JEDEC-Tray | |
JEDEC-Tray, Tape & Reel | |
Systemausrichtung, DUT-Position und -Ausrichtung, 2D-Matrix-Inspektion, 6-seitige AOI-Inspektion [optional] | |
LIV-Sweep-Test, Fernfeldtest | |
Bis zu 12 Testplätze | |
Automatisiertes Monitoring der Golden-Unit, Automatisiertes Yield-Monitoring, Automatisierter Retest, Automatisierte Deaktivierung von Standorten/Nestern, Automatisierte Reinigung der Pogo-Pins, Automatisiertes GR&R <10% |
Queen-QCP
Testhandler für Randemittierende Laser
Ein vollautomatisiertes System zur Durchführung des vollständigen LIV-Sweep-Tests sowie zur spektralen und fernfeldnahen Charakterisierung von randemittierenden Lasern (EEL).
JEDEC-Tray | |
Randemittierender Laser | |
LIV-Sweep-Test, Laser-Fernfeldtest | |
Maßprüfung | |
Tray-Map-Dateiintegration, Automatisierte optische Inspektion, Automatisiertes Yield-Monitoring, Automatisiertes GR&R <10% |
Mikro-LED
Testhandler für Mikro-LEDs
Bietet ein umfassendes Testsystem für μLEDs mit schnellen und präzisen Ergebnissen. Die Spot-Messanalyse erfolgt simultan innerhalb einer einzigen Aufnahme, sowohl für das gesamte Display als auch für die Analyse einzelner Pixel.
REL-Board, JEDEC-Tray | |
μLED | |
Colorimeter-Bildtest, Elektrischer Funktionstest | |
2DBC-Scanning, DUT-Ausrichtung |
PM38
PM38 MEMS-Mikrofon-Testhandler
Eine schlüsselfertige Komplettlösung mit umfassenden Funktionen von der Wafer-Eingabe über den elektrischen Funktionstest, Stimuli-Test, 6-seitige Inspektion, Sortierung bis hin zu Tape & Reel für Mikrofone.
Mylar-Wafer-Ring [8”, 10”, 12”], De-Taper [optional] | |
Tape & Reel [mit automatischem Rollenwechsler], JEDEC-Tray | |
MEMS-Mikrofon [Top-Port/Bottom-Port] | |
Top-Bildverarbeitungsinspektion, 2D-Pad-Messung, 3D-Messung, Post-Seal-Inspektion, Inspektion aktiver Dies, In-Taschen-Inspektion | |
Elektrischer Funktionstest, Stimuli-Test [Empfindlichkeitstest], Signal-Rausch-Verhältnis (SNR)-Test | |
Bis zu 8 Testplätze |
PM57-MS
PM57-MS Gyro-Bewegungssensor-Testhandler
Ein hochparalleles Prüfgerät zur Durchführung präziser Empfindlichkeitsprüfungen von Winkelgeschwindigkeitsmessungen und zur Kalibrierung der korrekten Beschleunigung von Gyroskopen und Beschleunigungssensoren.
Vibrationsschale, JEDEC-Tray, Kunststoffrohrstapler | |
Tape & Reel, Kanisterbehälter, Kunststoffrohr-Stapler | |
QFN, MEMS-Bewegungssensor | |
Innenachse & Drehachse: Maximale Geschwindigkeit 500°/Sekunde, Geschwindigkeitsgenauigkeit ±0,1% Pick & Place: Linearmotor für die X-Achse, Kugelgewindetrieb für die Z-Achse, Gang-Pick-Design (12x), Vakuum-Sensor für jede Einheit, Geräuscharm |
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Bis zu 72 parallele Teststandorte | |
Ausrichtung des Geräts |