Testhandler für Umgebungslicht-Kalibriersensoren
GIDEON

Testhandler für Umgebungslicht-Kalibriersensoren
Kalibriert präzise die Sensorantwort mittels eines breitbandigen Spektral-Sweeps über eine in Nanometern abgestimmte Lichtquelle. Der Sensor wird in verschiedenen Lichtumgebungen und Spektren getestet, um seine Fähigkeit zu prüfen, Unterschiede genau wahrzunehmen und darauf zu reagieren.

Ambient Light Calibration Sensor
JEDEC-Tray
Umgebungslichtsensoren
Lichtleckagetest, Sensor-Empfindlichkeits- & Linearitätstest, Spektralkalibrierung, Spektrale Messwertvalidierung des Sensors
Mehrfach-Testzellen für bis zu 108 parallele Teststandorte
300nm~1100nm
Anwesenheitsprüfung der Einheiten, Positionsüberprüfung
Automatisiertes Monitoring der Golden-Unit, Spektrometer-Auditkontrolle, Automatisiertes GR&R <10%, Automatisierter Retest, Laufzeitprotokoll, Automatisiertes Monitoring bei niedriger Ausbeute, UPH-Tracker, Deaktivierung von Teststandorten
Näherungssensor
GIDEON

Testhandler für Näherungssensoren
Ein vollautomatisiertes System zur Durchführung von vollständigen LIV-Tests, Messung der Strahlprofilmerkmale, Prüfung der Fotodiodenempfindlichkeit und -reaktionsfähigkeit sowie Funktionalitäts- und Reflexionsstandardtests für Näherungssensoren.

JEDEC-Tray
Näherungssensor
LIV-Sweep-Test, Modul-Reflexionstest, PD-Empfindlichkeits- und Reaktionstest
Bis zu 32 parallele Standorte
Automatisiertes Monitoring der Golden-Unit, Automatisiertes Yield-Monitoring, Automatisierter Retest, Automatisiertes GR&R <10%
Strukturierte Licht-3D-Sensoren
GIDEON

Testhandler für Structured-Light-3D-Sensoren
Er führt Hochgeschwindigkeits-LIV-Sweep-Tests durch und analysiert dabei das Muster des Dot-Projektors und die Flutbeleuchtungsmerkmale. Die Sicherheit für reale Anwendungen wird geprüft, um die Eignung für das menschliche Auge zu gewährleisten.

JEDEC-Tray
JEDEC-Tray, Tape & Reel
Systemausrichtung, DUT-Position und -Ausrichtung, 2D-Matrix-Inspektion, 6-seitige AOI-Inspektion [optional]
LIV-Sweep-Test, Fernfeldtest
Bis zu 12 Testplätze
Automatisiertes Monitoring der Golden-Unit, Automatisiertes Yield-Monitoring, Automatisierter Retest, Automatisierte Deaktivierung von Standorten/Nestern, Automatisierte Reinigung der Pogo-Pins, Automatisiertes GR&R <10%
Time-of-Flight-3D-Sensoren
GIDEON

Testhandler für Time-of-Flight-3D-Sensoren
Prüft und analysiert die Empfindlichkeit und Reaktionsfähigkeit der Fotodiode auf reflektiertes Licht mit verschiedenen Arten von Reflexionszielen in unterschiedlichen Höhen und Abständen.

JEDEC-Tray
Time-of-Flight-3D-Sensoren
LIV-Sweep-Test, Fernfeldtest
Bis zu 12 Testplätze
2D-Matrix-Inspektion
Automatisiertes Monitoring der Golden-Unit, Automatisiertes Yield-Monitoring, Automatisierter Retest, Automatisierte Deaktivierung von Standorten/Nestern, Automatisiertes GR&R <10%
AR/VR-Miniatur- Bildsensoren
GIDEON

Testhandler für AR/VR-Miniatur-Bildsensoren
Eine hochparallele Testplattform, die mit einer Reihe von Testcharts in verschiedenen Arbeitsabständen die Leistung von Miniatur-Bildsensoren/Endoskopen gemäß den ISO- und EMVA-1288-Standards prüft.

Angepasste Tray
Miniatur-Bildsensor, Endoskop
Elektrischer Funktionstest, Edge Spatial Frequency Response (ESFR) ISO-Testchart, Dynamikbereichs-Testchart, Beleuchtung mit hoher Gleichmäßigkeit, Schachbrettmuster
Bis zu 12 parallele Standorte
Aktive Ausrichtung/Positionierung der Test-Sockets
Automatisierte Ausrichtung/Positionierung der Test-Sockets, Programmierbare Farbtemperatur der Lichtquelle für Sensortests
VCSEL
GIDEON

VCSEL-Testhandler
Ein vollautomatisierter Testhandler zur Prüfung der elektrischen und optischen Eigenschaften von VCSELs auf Modulebene.

VCSEL Test Handler
JEDEC-Tray
JEDEC-Tray, Tape & Reel
Systemausrichtung, DUT-Position und -Ausrichtung, 2D-Matrix-Inspektion, 6-seitige AOI-Inspektion [optional]
LIV-Sweep-Test, Fernfeldtest
Bis zu 12 Testplätze
Automatisiertes Monitoring der Golden-Unit, Automatisiertes Yield-Monitoring, Automatisierter Retest, Automatisierte Deaktivierung von Standorten/Nestern, Automatisierte Reinigung der Pogo-Pins, Automatisiertes GR&R <10%
Randemittierender Laser
Queen-QCP

Testhandler für Randemittierende Laser
Ein vollautomatisiertes System zur Durchführung des vollständigen LIV-Sweep-Tests sowie zur spektralen und fernfeldnahen Charakterisierung von randemittierenden Lasern (EEL).

Edge-Emitting Laser Test Handler
JEDEC-Tray
Randemittierender Laser
LIV-Sweep-Test, Laser-Fernfeldtest
Maßprüfung
Tray-Map-Dateiintegration, Automatisierte optische Inspektion, Automatisiertes Yield-Monitoring, Automatisiertes GR&R <10%
Mikro-LED
Mikro-LED

Testhandler für Mikro-LEDs
Bietet ein umfassendes Testsystem für μLEDs mit schnellen und präzisen Ergebnissen. Die Spot-Messanalyse erfolgt simultan innerhalb einer einzigen Aufnahme, sowohl für das gesamte Display als auch für die Analyse einzelner Pixel.

REL-Board, JEDEC-Tray
μLED
Colorimeter-Bildtest, Elektrischer Funktionstest
2DBC-Scanning, DUT-Ausrichtung
MEMS-Mikrofon
PM38

PM38 MEMS-Mikrofon-Testhandler
Eine schlüsselfertige Komplettlösung mit umfassenden Funktionen von der Wafer-Eingabe über den elektrischen Funktionstest, Stimuli-Test, 6-seitige Inspektion, Sortierung bis hin zu Tape & Reel für Mikrofone.

Mylar-Wafer-Ring [8”, 10”, 12”], De-Taper [optional]
Tape & Reel [mit automatischem Rollenwechsler], JEDEC-Tray
MEMS-Mikrofon [Top-Port/Bottom-Port]
Top-Bildverarbeitungsinspektion, 2D-Pad-Messung, 3D-Messung, Post-Seal-Inspektion, Inspektion aktiver Dies, In-Taschen-Inspektion
Elektrischer Funktionstest, Stimuli-Test [Empfindlichkeitstest], Signal-Rausch-Verhältnis (SNR)-Test
Bis zu 8 Testplätze
Gyro-Bewegungssensor
PM57-MS

PM57-MS Gyro-Bewegungssensor-Testhandler
Ein hochparalleles Prüfgerät zur Durchführung präziser Empfindlichkeitsprüfungen von Winkelgeschwindigkeitsmessungen und zur Kalibrierung der korrekten Beschleunigung von Gyroskopen und Beschleunigungssensoren.

Vibrationsschale, JEDEC-Tray, Kunststoffrohrstapler
Tape & Reel, Kanisterbehälter, Kunststoffrohr-Stapler
QFN, MEMS-Bewegungssensor
Innenachse & Drehachse: Maximale Geschwindigkeit 500°/Sekunde, Geschwindigkeitsgenauigkeit ±0,1%
Pick & Place: Linearmotor für die X-Achse, Kugelgewindetrieb für die Z-Achse, Gang-Pick-Design (12x), Vakuum-Sensor für jede Einheit, Geräuscharm
Bis zu 72 parallele Teststandorte
Ausrichtung des Geräts