Revolver-Test & -Bildverarbeitung
32-Positionen-Revolversystem für Test, Inspektion, Laserkennzeichnung und Sortierung
PM31-T/PM35-T/PM38-T
Revolver-Test- & -Bildverarbeitungssystem
Eine Hochgeschwindigkeits-Revolverplattform für Tests und Bildverarbeitung von diskreten Bauelementen und ICs, mit optionalen Funktionen wie Laserkennzeichnung, Sortierung, Entbanden und Bandern, je nach Ihren Anforderungen.
| Vibrationsschale, Kunststoffröhrenstapler, De-Taper, JEDEC-Tray | |
| Tabe & Reel, Kunststoffröhrenstapler, JEDEC-Tray | |
| TO, DPAK, PDIP, SOIC, TSSOP, SOT, QFN | |
| Anschluss-, Markierungs-, Gehäuse- und Pad-Inspektion | |
| Elektrischer Funktionstest | |
| Bis zu 8 parallele Testplätze | |
| Bis zu 10 N unabhängig Optional: Bis zu 50 N unabhängig Optional: Bis zu 80 N mit pneumatischer Lösung |
Eine komplette schlüsselfertige Lösung mit umfassenden Funktionen für eine breite Palette von Bauteilen.
PM38
Wafer-Level Die Sortierer
Eine komplette schlüsselfertige Lösung mit umfassenden Funktionen: vom Wafer-Einzug, elektrischen Funktionstest, Stimuli-Test, 6-seitiger Inspektion, Sortierung bis hin zum Tape-&-Reel-Verfahren für eine Vielzahl von Gehäusetypen.
| Mylar-Wafer-Ring [8”, 10”, 12”], De-Taper [optional] | |
| Tape & Reel [mit automatischem Rollenwechsler], JEDEC-Tray | |
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Halbleiter [Gehäuse ohne Anschlussbeine: Diskrete DFN, QFN] [Gehäuse mit Anschlussbeinen: Leaded SOIC, MSOP, TSSOP, TO252, TO263, SOT223, SC70, SOT, SOD, SC79] LEDs MEMS-Mikrofon [Top-Port/Bottom-Port] Optische Sensoren [Strukturlicht-3D-Sensor, Time-of-Flight-3D-Sensor, Näherungssensor, Umgebungslichtsensor, Spektralsensor, 3D-Magnetsensor] |
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| Top-Bildverarbeitungsinspektion, 2D-Pad-Messung, 3D-Messung, Post-Seal-Inspektion, Inspektion aktiver Dies, In-Taschen-Inspektion | |
| Elektrischer Funktionstest, Stimuli-Test [Empfindlichkeitstest], Signal-Rausch-Verhältnis (SNR)-Test, LED-Wellenlängen- & Strahlungstest, Photodioden-Empfindlichkeitstest, Light-Current-Voltage (LIV)-Steigungstest, Übersprechen- & Mess-Test, Magnettest | |
| Bis zu 8 Testplätze |