リニアピックアンドプレーステストとビジョン
Our Linear Pick & Place Test & Vision Handlers integrate direct docking with a streamlined linear mechanism, delivering precision and efficiency across development, low-volume, and high-volume production.
Mason
リニアピックアンドプレースハンドラー
シングル、デュアル、クアッド、オクタのテストサイトをサポートする、大量のマルチサイトICおよびイメージセンサーテスト用に設計された高機能ピックアンドプレースハンドラー。
| JEDECトレイ | |
| QFP、BGA、QFN、MLF、TSSOP、SOIC、SIP、ODFN、OLGA | |
| 電気機能テスト、CMOSイメージセンサーテスト、室温から高温までのテスト | |
| 最大16サイト |
AERO-10
Device Characterization System
開発段階から少量生産まで対応する、パワー半導体、MEMS、光デバイス向けの省スペースかつ多用途なテストシステムです。
| <入力オプション | JEDECトレイ,自動トレイスタッカー、ワッフルパック、ウェーハリング、プラスチック/金属チューブ、振動ボウルフィーダー |
| JEDECトレイ、自動トレイスタッカー、ワッフルパック、ウェーハリング、プラスチック/金属チューブ、テープ＆リール | |
| SOP, SOJ, SON, QFP, QFJ, QFN, LGA, BGA, WLCSP, bare die (サイズ制限内のあらゆるパッケージに対応できるよう構成可能です。) | |
| IC、光デバイス、センサー、パワーデバイス（標準およびカスタマイズされたテストステーションをご用意いたします） | |
スティミュラスオプション
|
|
| 標準：単一サイト 複数サイトは要相談 | |
|