Home 先進パッケージ 高度なパッケージング向けバーンイン、テスト、検査、選別ソリューション 次世代アドバンスパッケージング技術における革新 – 未来の課題に対応し、AI先進半導体技術の未来を牽引する画期的なソリューション。 ウェーハレベル2D+3D ウェーハAOI SiPH プロービング&テスト 3D X線検査 ダイレベルチップレット&ダイテスト パネルレベルパネル/ボード/基板 IVR テスト システムレベルHPC バーンイン ATC システムレベルテスト 弊社のソリューション 当社の製品群は、ウェーハ検査・機能テストから高精度選別・バーンインまで、先進パッケージングプロセスの全段階に対応しています。 2D+3D ウェーハ検査 シリコンフォトニクス(SiPH)ウェーハプロービング シリコンフォトニクス(SiPH)テスト チップレット&ダイテスト パネル/ボード/基板 IVR テスト アクティブサーマルコントロール システムレベルテスト X線 3D 検査 HPC バーンイン