先進パッケージ

高度なパッケージング向けバーンイン、テスト、検査、選別ソリューション
次世代アドバンスパッケージング技術における革新 – 未来の課題に対応し、AI先進半導体技術の未来を牽引する画期的なソリューション。
ウェーハレベル

2D+3D ウェーハAOI
SiPH プロービング&テスト
3D X線検査

ダイレベル

チップレット&ダイテスト

パネルレベル

パネル/ボード/基板 IVR テスト

システムレベル

HPC バーンイン
ATC システムレベルテスト

弊社のソリューション
当社の製品群は、ウェーハ検査・機能テストから高精度選別・バーンインまで、先進パッケージングプロセスの全段階に対応しています。

2D+3D ウェーハ検査

シリコンフォトニクス(SiPH)ウェーハプロービング

シリコンフォトニクス(SiPH)テスト

チップレット&ダイテスト

Panel Board Electrical Test

パネル/ボード/基板 IVR テスト

アクティブサーマルコントロール システムレベルテスト

X線 3D 検査

HPC バーンイン