ダイレベルのテスト
PM52X-KGDダイレベルのテストハンドラー
大量の単一または複数サイトのベアダイテスト用に設計されており、複数のアプリケーションでさまざまな種類のベアダイをサポートします。
| ワッフルパック、ウェハーリング、ディテーパー | |
| ワッフルトレイ、ウェハー再構成、テープ＆リール | |
| ダイ | |
| ACテスト、DCテスト、室温から高温までのUISテスト | |
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トップ検査: 表面外観、DUT寸法、2Dリード ボトム検査: 表面外観、パッド寸法、パッド外観 プローブ位置決め インポケット検査: デバイスの有無、デバイスの向き |