ZAN-X 2000

先進のウェハーAOI
システム ZANX 2000 は、ベア ウェハーおよびフィルム フレーム ウェハー上の微細およびマクロの表面欠陥を高分解能で検出するために設計された高度な自動ウェハー検査システムです。

ベアウェーハ (6インチ、8インチ、12インチ)
ウェハー厚さ: 100um~1000um
フィルムフレームウェーハ(6インチ、8インチ、12インチ)
FOUP/FOSB、オープンカセット、メタルカセット
マイクロ検査 マクロ検査
カメラ
高解像度カラーカメラ
カメラ
エリアスキャンカラーカメラ
対物レンズ
1倍、2倍、3倍、5倍、7.5倍、10倍、20倍、50倍
最小欠陥検出
240um
最小欠陥検出
0.5um
照明
BF/DF
AI欠陥分類 パタ
ン検出、欠陥ラベリング、選別
画像処理アルゴリズム
画像マスキング
照明
BF/DF
GR&R
0.5 ピクセル
精度
2ピクセル
オートフォ
カス オートレンズ交換
微分干渉コントラスト(DIC)モード
フォトルミネッセンス(PL)検査
画像処理アルゴリズム
画像マスキング