ダイシング後のビジョン検査

ダイシングされた半導体ウェハーの品質を保証するために、欠陥やアライメントエラーを検出する革新的なビジョン検査ハンドラー。

ダイシング後のビジョン検査ハンドラー

高速かつオンザフライの4面検査システムを備え、ウェハーダイシング後の完全自動検査および計測ソリューションを提供します。

ゲルトレイ、ダイサーソーイングテーブルからのピック
JEDECトレイ、キャニスタービン、テープ&リール(オプション)、重力チューブ(オプション)
ダイ(最小1.1mm x 1.5mm)
トップ検査
ウェハーアライメント、オリエンテーション表面外観、マーキング、オリエンテーション、2DID検査
ボトムおよび4面検査
表面外観、寸法、亀裂、欠け、パッドの長さ、パッドの幅、パッドの汚染、パッドのブリッジ
シール後の検査
破れたシール、破損したシール